日本NOISEKEN諾伊茲PCB板電磁波分析系統(tǒng) EPS-3007
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產(chǎn)品名稱(chēng): 日本NOISEKEN諾伊茲PCB板電磁波分析系統(tǒng) EPS-3007
產(chǎn)品型號(hào): EPS-3007
產(chǎn)品展商: 日本NOISEKEN諾伊茲
產(chǎn)品文檔: 無(wú)相關(guān)文檔
簡(jiǎn)單介紹
日本NOISEKEN諾伊茲PCB板電磁波分析系統(tǒng) EPS-3007
日本NOISEKEN諾伊茲PCB板電磁波分析系統(tǒng) EPS-3007
日本NOISEKEN諾伊茲PCB板電磁波分析系統(tǒng) EPS-3007
的詳細(xì)介紹
自動(dòng)測(cè)試PCB板發(fā)射的近場(chǎng)輻射
EPS 是為了在一般的辦公場(chǎng)所以及類(lèi)似的電磁環(huán)境下靠X-Y 軸天線探頭的掃描裝置量測(cè)放在試驗(yàn)臺(tái)上的印刷電路所產(chǎn)生RF 近場(chǎng)輻射的掃描系統(tǒng)。掃描所得結(jié)果會(huì)以頻譜表以及場(chǎng)強(qiáng)的彩色分布圖顯示在使用者的PC 顯示器上。*后會(huì)將重迭在裝在主機(jī)上的CCD 照相機(jī)所攝取的印刷電路板的實(shí)體影像上，令使用者得以定位準(zhǔn)確的輻射源
特征
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通過(guò)天線探頭進(jìn)行單次掃描, 獲得在不同位置針對(duì)不同頻率、場(chǎng)強(qiáng)的分布情況
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分別偵測(cè)電場(chǎng)與磁場(chǎng)
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頻率范圍寬，且可以任意設(shè)置
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分辨率高
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可以用3D 顯示某一區(qū)域干擾源
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可以將改善前后測(cè)試的資料作比較
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以單**線探頭掃描，以此把各測(cè)試點(diǎn)間的誤差降至*低
用途
此產(chǎn)品現(xiàn)在、使用在以下用途上。 弊公司是經(jīng)常聽(tīng)取顧客的寶貴意見(jiàn)開(kāi)發(fā)出多種新的用途。例如：
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相比其他地方、能找到更加**別地方
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知道不太明確的頻率、或者是頻率領(lǐng)域、即可找到那個(gè)地方
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回路設(shè)計(jì)變更前后的測(cè)試結(jié)果的比較
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零部件測(cè)試
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EMI控制零部件效果的評(píng)價(jià)
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I/O線纜的測(cè)試
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測(cè)試小型金屬覆蓋物
規(guī)格
本體/控制部 (控制器)
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測(cè)試方式
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在XY平面上用微小電磁場(chǎng)探頭掃描
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檢波信號(hào)分析
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通過(guò)頻譜分析儀分析
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測(cè)試頻率范圍
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30MHz ~ 1.5GHz (標(biāo)配)
30MHz ~ 3GHz (選件)
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低頻測(cè)試范圍
(選件)
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150kHz ~ 100MHz
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控制方式
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PC控制
GP-IB/脈沖馬達(dá)控制/畫(huà)像導(dǎo)入
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測(cè)試區(qū)域
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*大(W)350mm x (D)300mm
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*小測(cè)試掃描
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1.0mm x 1.0 mm (根據(jù)天線探頭是不同的)
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*小步進(jìn)
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1mm/0.1mm步進(jìn)
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電源
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AC95~120, 210~250V 50/60Hz, 150VA
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尺寸
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(W) 601 x (H) 980 x (D) 662mm
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重量
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約37kgs
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測(cè)試探頭
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探頭A (垂直磁場(chǎng)用) 、 探頭B (水平磁場(chǎng)用)、 探頭C (電場(chǎng)用)
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功能
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掃描頻率領(lǐng)域的設(shè)定、比較、測(cè)試數(shù)據(jù)的保存?打印、發(fā)射頻譜顯示、*大噪聲源的調(diào)查、測(cè)試回路基板的噪聲發(fā)射強(qiáng)度的顯示、回路基板噪聲發(fā)射數(shù)據(jù)和該回路基板畫(huà)像的同時(shí)合成顯示
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電腦（PC) (需要的規(guī)格)
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互換機(jī)
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IBM PC-AT Windows® XP用互換機(jī)
推薦CPU: Pentium® Ⅱ233MHz以上
內(nèi)存 : 推薦128兆字節(jié)以上
硬盤(pán) : 100MB以上 (取決于掃描的數(shù)據(jù)量)
顯示模式 : SVGA or XGA
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OS
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Microsoft® Windows®XP, WindowsVista®, Windows7®
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軟件
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需要原版X®第2版以后的版本 (推薦原版X®第5版)
使用3維顯示屏
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擴(kuò)展槽
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2 x *高的PCI插槽 (脈沖馬達(dá)接口和視頻接口用)
1 x *高的PCIe插槽或USB (GP-IB接口用)
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擴(kuò)展板
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GP-IB接口 (使用IRQ)
脈沖馬達(dá)視頻接口 (不使用IRQ)
視頻接口 (使用IRQ)
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測(cè)試功能
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單元結(jié)構(gòu)
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級(jí)別 : dBμV/dBm, 頻率 : MHz (基本比例尺)
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可使用頻譜分析儀
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Agilent Technologies: E4402B
ADVANTEST: U3741
Anritsu: MS2661C
* 可使用機(jī)型請(qǐng)來(lái)電商議
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